10月23日晚，西安交大大型设备技术及应用系列讲座第六期“亚埃尺度的化学分析：球差校正扫描透射电镜的能力与挑战”在科学馆207举行。本次讲座由实验室与资产管理处主办，国际电介质研究中心协办，主讲专家是电介质中心杨光教授邀请的美国伊利诺伊大学芝加哥分校物理系副教授、国际知名扫描透射电镜及电子能量损失谱领域专家Robert F. Klie教授。Klie教授在扫描透射电镜及能谱损失领域具有很高的国际影响力，相关研究成果在国际期刊发表文章80多篇，被引用超过1400次，目前h因子为20。
Klie教授向师生们介绍了目前世界顶级扫描透射电镜JEOL JEM-ARM200CF的基本情况、工作原理，以及其研究小组利用该设备取得的研究成果。聆听讲座的除了西安交大的师生外，还有西安其他高校的师生。讲座结束后，Klie教授与大家进行了探讨和交流。
大型设备技术及应用系列讲座由实验室与资产管理处发起并主办，旨在向广大师生介绍学校大型设备的拥有配置情况及应用范围等，为广大师生、技术管理人员提供与世界顶级技术专家沟通交流的平台，充分利用学校的设备资源开展教学科研，提高设备使用效益。该系列讲座目前已连续举办了六期，先后邀请校内外及国际技术专家为师生介绍各领域最前沿的实验技术和成果，特别强调和注重实用性、应用性，师生反响热烈。
